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快速溫度變化濕熱試驗(yàn)箱電子元器件老化測試在半導(dǎo)體芯片的研發(fā)和生產(chǎn)過程中，快速溫度變化濕熱試驗(yàn)箱可用于模擬芯片在不同工作環(huán)境下的溫度和濕度變化。芯片在實(shí)際使用中會經(jīng)歷從低溫到高溫的快速切換，如在電子設(shè)備的啟動(dòng)和運(yùn)行過程中
產(chǎn)品型號：TEC-800PF- 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間：2024-12-13
- 訪 問 量：260
| 品牌 | 廣皓天 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 溫度范圍 | - 40℃～+150℃ | 溫度波動(dòng)度 | ±0.3℃（-20℃～+100℃）、±0.5℃（+100.1℃～+150℃） |
| 溫度偏差 | ±1.5℃（+100.1℃～+150℃） | 升溫時(shí)間 | 平均非線性5℃ |
| 降溫時(shí)間 | 平均非線性5℃ | 濕度范圍 | 20%～98% R.H |
| 濕度偏差 | ≤±3%RH | 溫度均勻度 | ±2℃ |
| 溫度控制精度 | ±0.5℃ | 工作室尺寸 | 1000×800×1000mm |
| 容積 | 800L | 外形尺寸 | 1250×1750×2180mm |
| 電源電壓 | AC380V±10%，50Hz | 制冷劑 | R404a/R23 |
快速溫度變化濕熱試驗(yàn)箱電子元器件老化測試
電子元器件老化測試
對于電阻、電容、電感等電子元器件，濕熱環(huán)境和溫度變化會影響其電氣性能和壽命。利用試驗(yàn)箱進(jìn)行老化測試，可以加速元器件的老化過程，提前篩選出存在質(zhì)量缺陷的產(chǎn)品。例如，在高溫高濕環(huán)境下，電容的絕緣性能可能會下降，通過設(shè)置不同的溫度和濕度循環(huán)，能夠檢測電容在這種環(huán)境下的耐久性，確保其在實(shí)際電子產(chǎn)品中的長期穩(wěn)定運(yùn)行。
（一）溫度控制系統(tǒng)
高精度傳感器
采用的鉑電阻溫度傳感器，具有高的測量精度和穩(wěn)定性。能夠?qū)崟r(shí)準(zhǔn)確地監(jiān)測試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度變化，為溫度控制提供可靠的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。其測量精度可達(dá)到 ±0.1℃，能夠滿足對溫度變化要求極為嚴(yán)苛的測試需求。
快速加熱與制冷技術(shù)
配備高效的加熱元件和制冷壓縮機(jī)。加熱元件采用不銹鋼鎧裝加熱絲，加熱功率大且熱響應(yīng)速度快，能夠在短時(shí)間內(nèi)將試驗(yàn)箱內(nèi)溫度升高到設(shè)定值。制冷系統(tǒng)采用復(fù)疊式制冷技術(shù)，通過不同制冷劑的組合，實(shí)現(xiàn)了寬范圍的低溫制冷效果，并且降溫速率快，例如從常溫降至 -60℃的時(shí)間可控制在較短時(shí)間內(nèi)，滿足快速變溫的要求。
智能溫度控制算法
運(yùn)用的 PID（比例 - 積分 - 微分）控制算法，根據(jù)傳感器反饋的溫度數(shù)據(jù)，實(shí)時(shí)調(diào)整加熱或制冷功率。該算法能夠快速響應(yīng)溫度偏差，控制溫度變化曲線，使試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度按照預(yù)設(shè)的速率均勻地上升或下降，有效避免了溫度過沖或波動(dòng)過大的問題，確保了溫度控制的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。
快速溫度變化濕熱試驗(yàn)箱電子元器件老化測試
優(yōu)質(zhì)絕熱材料
試驗(yàn)箱箱體采用多層絕熱結(jié)構(gòu)，內(nèi)層為不銹鋼板，具有良好的耐腐蝕性能，能夠適應(yīng)濕熱環(huán)境的長期作用。中間層填充高密度聚氨酯泡沫絕熱材料，其導(dǎo)熱系數(shù)低，有效地減少了試驗(yàn)箱內(nèi)外的熱量傳遞，降低了能耗，同時(shí)保證了箱內(nèi)溫度的穩(wěn)定性，減少了外界環(huán)境對測試結(jié)果的干擾。
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