廠家高低溫沖擊試驗箱溫度老化測試

使用高低溫沖擊試驗箱進行溫度老化測試有諸多好處。首先，能準確模擬不同的溫度環(huán)境，提前暴露產品在不同溫度下可能出現(xiàn)的潛在問題，如材料老化、性能下降等，有效提高產品可靠性。其次，快速的溫度切換可縮短測試時間，提高測試效率，降低企業(yè)研發(fā)和質量檢測成本。再者，通過該設備的測試，企業(yè)可以更好地了解產品的溫度適應范圍，為產品的優(yōu)化和改進提供有力依據(jù)，增強產品在市場上的競爭力。

一、產品特點

1. 精準控溫：采用先進的溫度控制系統(tǒng)，能夠精確控制高低溫范圍，確保測試的準確性。

2. 快速切換：在高低溫之間實現(xiàn)快速切換，滿足不同測試需求。

3. 穩(wěn)定可靠：高品質的制造工藝和材料，保證設備的穩(wěn)定性和可靠性，長時間運行。

4. 三箱結構：根據(jù)測試要求的三箱設計，分別為高溫區(qū)、低溫區(qū)和測試區(qū)，有效隔離不同溫度環(huán)境，提高測試效率。

5. 操作簡便：人性化的操作界面，易于操作和設置參數(shù)。

1. 溫度范圍：高溫區(qū)可達到 +150℃，低溫區(qū)可降至 -65℃。

2. 溫度波動度：±0.5℃。

3. 溫度均勻度：±2℃。

4. 升溫速率：平均 3℃/min（非線性空載）。

5. 降溫速率：平均 1℃/min（非線性空載）。

6. 內箱尺寸：W500×H400×D400mm。

7. 外箱尺寸：W1500×H1950×D1400mm。

廣泛應用于電子、電器、通訊、汽車、航空航天等領域，對產品進行高低溫沖擊測試，以檢驗產品在不同溫度環(huán)境下的性能和可靠性。

四、滿足以下標準：

1. IEC 60068-2-14：環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 N：溫度變化。

2. MIL-STD-810F：美國J用標準，環(huán)境工程考慮和實驗室試驗方法。

1. GB/T 2423.1-2008：電工電子產品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 A：低溫。

2. GB/T 2423.2-2008：電工電子產品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 B：高溫。

3. GB/T 2423.22-2012：環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 N：溫度變化。

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